Moshchalkov V.V., Pace S., Zhu X., Grimaldi G., Leo A., Nigro A., Silhanek A.V., Gillijns W., Berdiyorov G.R., Milosevic M.V., Verellen N., Metlushko V., Ilic B.
Ключевые слова: pinning centers, microstructure, LTS, Al, films, Jc/B curves, critical caracteristics, current-voltage characteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.